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标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同? [打印本页]

作者: buick 时间: 2005-7-11 12:23
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
我用各种采样率,各种尺寸测试出来的结果都不大一样,Qts有正负0.2的误差,不知道哪个才是正确, 有什么好办法吗?
另外,我发现,采样尺寸越大,测出的阻抗曲线越圆滑,用32768等更小的采样尺寸时,阻抗峰上有很多又高又尖的小峰, 不知道大家计算t/s之前,有没有对曲线平滑? 我试过用1/16平滑,就不知道结果是否正确?
再有, sw的阻抗和justmls差距很大,不知道那个比较准点?
请问大家是怎么测的?

作者: DAAS 时间: 2005-7-11 15:32
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
建议楼主使用扫频的方式测量可能会比较准确一点吧：）

作者: Lafeite 时间: 2005-7-11 21:45
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?

SW有扫频,应该尽量用扫频.
扫频是最原始的方法,原理简单,准确的标准方法.
MLS只算是操作简单快速、原理复杂的代用方法,涉及复杂的变换过程,不推荐.当然,环境不好时测频响就有优势了.

作者: buick 时间: 2005-7-12 01:17
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
用扫频是不是在sw 上建立一个扫频信号, 然后录制后,fft的就是频响?

作者: lingyi 时间: 2005-7-12 10:03
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
要准确的测量TS参数，首先要能测量出准确的阻抗曲线。

作者: xian-gen 时间: 2005-7-12 11:37
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
没用过SW，但我想采样越多，测量结果就应该越准确。

作者: Lafeite 时间: 2005-7-12 19:42
标题: 为什么sw测试t/s参数,每次都不同?
SW有没有扫频我还真忘了,Qts要求那么准确干什么? 误差0.2也够用了.温度、湿度和测量时的障碍物都会影响,你用手按压几下纸鼓都会使参数发生变化.
关于准确性,采样越多越好,只要能稳定运行,尽量用大的采样率.计算参数其实只取阻抗曲线的几个点,有毛刺肯定不准确,万一取到毛刺的最尖端,结果就会有问题,必须要平滑后再计算,平滑也不能过分,应保证刚好平滑掉毛刺而曲线本身没有受到可见的影响

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